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量天體的磁場。
楚遷想,可能是光譜線在聚能場的磁場作用下發生了分裂。利用塞曼效應也可以進行天體的檢測。
克爾發現,與電場二次方成正比的電感應雙折射現象。放在電場中的物質,由於其分子受到電力的作用而發生取向(偏轉),呈現各向異性,結果產生雙折射,即沿兩個不同方向物質對光的折射能力有所不同。後人稱之為克爾電光效應。
楚遷想,可能是其他透光物質的折射率在聚能場的磁場作用下發生變化。利用克爾電光效應也可以檢測折射率。
總結起來講,偏振光的偏轉角,光譜線,透光物質的折射率,都可能在聚能場電磁場影響下發生變化,所以,利用光感測器檢測到的訊號會有變化。
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